新聞發布—美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2015年8月4日-6日在美國得克薩斯州首府奧斯汀舉辦了一年一度的NIWeek全球盛會。3200多名業界代表參加了此次盛會，見證了NI通過平臺化架構幫助客戶將Big Analog Data進一步分析、控制，打造智能化系統，實現物聯網實施落地的最新理念。

NI始終致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰。NIWeek自舉辦20多年來，已經成為圖形化系統設計領域的全球盛會，也成為了測試、測量與控制相關行業最為重要的前瞻性會議。此次NIWeek定位于工業物聯網，介紹了物聯網發展的關鍵技術及挑戰，發布了NI針對物聯網應用的最新解決方案和軟硬件產品，同時展示了令人耳目一新的具體應用案例，覆蓋智能測量（Smart Measurement）、智能測試系統（Smart Test System）、智能電網（Smart Grid）、智能機器（Smart Machines）與智能發電（Smart Power Generation）五大核心領域。

NI針對工業物聯網(IIoT)推出新一代控制系統，基于開放、靈活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架構的全新嵌入式系統硬件

該硬件包含了以下三個控制器：高性能CompactRIO控制器，適用于需要系統堅固可靠、環境嚴苛的工業應用領域的工程師和系統集成商；FlexRIO控制器，適用于有便攜需求的高性能嵌入式應用設計工程師；以及Single-Board RIO控制器，適用于需要提高嵌入式應用靈活性的設計工程師。這些控制器集成了來自Intel和Xilinx的最新嵌入式技術，旨在幫助系統設計工程師和機器開發人員應對最嚴峻的控制和監測挑戰。控制器基于SELinux ，完全受到LabVIEW軟件、LabVIEW FPGA模塊和NI Linux Real-Time的支持，為工業物聯網應用提供了高級的安全功能。

全新無線測試系統(WTS)降低無線生產測試成本，基于PXI的無線測試系統進行了速度優化，可數倍提高生產車間的生產效率

WTS結合了最新的PXI硬件，為多標準、多DUT和多端口測試提供了一個統一平臺。該系統結合TestStand無線測試模塊等靈活的測試序列生成軟件，可幫助制造商大幅提高并行測試多個設備時的儀器利用效率。WTS可輕松集成到生產線中，提供了可立即運行的測試序列來測試采用Qualcomm和Broadcom芯片的設備、集成式DUT和遠程自動化控制。借助這些特性，用戶將可明顯看到其RF測試設備的效率大幅提升，從而進一步降低了測試成本。

全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015軟件，幫助工程師解決大數據挑戰

全新的4槽和8槽CompactDAQ控制器搭載Intel Atom E3845四核處理器作為控制器，可使用最新版的LabVIEW2015系統設計軟件進行編程。同時新的控制器可運行Windows Embedded 7或NI Linux Real- Time操作系統，包含了32 GB非易失性存儲和可移動SD存儲，可幫助工程師開發更智能的數據記錄和嵌入式監測應用。全新的USB 3.0 CompactDAQ機箱更可幫助用戶將測量系統擴展到更高通道數的應用，而且不會降低數據傳輸速度。DIAdem 2015 64位軟件可讓用戶加載和分析比以往更多的數據。 DataFinder 2015服務器版提供了多級查詢功能，查詢請求會發送到服務器全局，幾秒鐘內便可找到用戶需要分析的數據。

最新LabVIEW 2015系統級設計軟件更快速編寫代碼

LabVIEW最新版提供了快速便捷開發方式和調試工具，將繼續通過系統間的代碼復用來標準化用戶與幾乎所有硬件的交互方式，從而幫助他們節省時間和成本，以適應技術的進步、需求的變化和日益增加的上市時間壓力。LabVIEW 2015還可幫助用戶以最短的時間學習軟件設計的方法，進而快速開發強大、靈活、可靠的系統。

“工業物聯網將代表下一代工業革命，而且伴隨著大數據的加入也將帶來無窮的機遇。” NI 總裁、CEO和創始人Dr. James Truchard表示，“NI將幫助客戶應對物聯網發展所帶來的挑戰，承擔鏈接物聯網與大數據的中間角色，為客戶提供切實的智能解決方案。”

如需了解更多關于2015 NIWeek資訊，請訪問http://www.ni.com/niweek/